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2013
16th International Congress of Metrology
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Article Number | 11016 | |
Number of page(s) | 4 | |
Section | Métrologie électrique / Electrical metrology | |
DOI | https://doi.org/10.1051/metrology/201311016 | |
Published online | 07 October 2013 |
Improvement of the accuracy of the logometric impedance meters in wide frequency range
Amélioration de la précision de mesure des mesureurs logométriques de l’impedance sur une large band de fréquences
Ukrmetrteststandard, Metrologichna str., 4 Kiev, 03680, Ukraine
Logometric impedance meter with variational correction of the uncertainty, caused by finite loop amplification and admittance between protecting amplifier inputs has been developed. To correct named uncertainty, the variation of the protecting amplifier gain is provided and additional measurement of the voltage drop on the standard is implemented. Appropriate calculation eliminates influence of the described uncertainty source on the result of measurement. Proposed approach has been used in the logometric impedance meter MNS1200, delivered to Siberian Institute of Metrology to be used in secondary standard of inductance for frequency up to 1 MHz.
Résumé
Les mesureurs logométriques de l’impédance avec la correction variationnelle de l’erreur de mesure, conditionnée par le gain de boucle terminal de l’amplificateur protecteur du mesureur et par la conductivité des câbles ont été élaborés. Le gain de l’amplificateur protecteur est varié un nombre de fois connu pour corriger cette erreur. Le mesurage de la chute de tension sur la mesure modèle avant et après la variation permet d’élaborer le système d’équations, dont la résolution exclut complètement l’impacte du gain de l’amplificateur protecteur sur le résultat de mesure de l’impédance. La solution proposée était utilisée dans le mesureur logométrique de l’impédance MNS1200, livré à l’Institut Sibérien de Métrologie pour l’étalon secondaire d’inductance jusqu’à 1 MHz.
Key words: impedance / comparison / quadrature / uncertainty / standard / digital synthesis / frequency range / algorithm / uncertainty elimination
© Owned by the authors, published by EDP Sciences, 2013
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