Metrology for Graphene and 2-D Materials | International Congress of Metrology

Open Access

Numéro		2015 17^th International Congress of Metrology


Numéro d'article		14001
Nombre de pages		7
Section		Nanotechnologie : mesure et caractérisation / Nanotechnology: measurement and characterisation
DOI		https://doi.org/10.1051/metrology/20150014001
Publié en ligne		21 septembre 2015

K. S. Novoselov, A. K. Geim, S. V. Morozov, D. Jiang, Y. Zhang, S. V. Dubonos, I. V. Grigorieva, A. A. Firsov, Science, 306, 666 (2004) [CrossRef] [PubMed] [Google Scholar]
A. C. Ferrari et al., Nanoscale, 7, 4598 (2015) [CrossRef] [PubMed] [Google Scholar]
A. Tzalenchuk, S. Lara-Avila, A. Kalaboukhov, S. Paolillo, M. Syväjärvi, R. Yakimova, O. Kazakova, T. J. B. M. Janssen, V. Fal’ko and S. Kubatkin, Nat. Nanotechnol. 5, 186 (2010) [CrossRef] [PubMed] [Google Scholar]
F. Banhart, J. Kotakoski and A. V. Krasheninnikov, ACS Nano, 5, 26 (2011) [CrossRef] [PubMed] [Google Scholar]
S. C. O’Hern, M. S. H. Boutilier, J-C. Idrobo, Y. Song, J. Kong, T. Laoui, M. Atieh, and R. Karnik, Nano. Lett., 14 1234 (2014) [CrossRef] [PubMed] [Google Scholar]
M. M. Lucchese, F. Stavale, E. H. Martins Ferreira, C. Vilani, M. V. O. Moutinho, R. B. Capaz, C. A. Achete and A. Jorio, Carbon, 48, 1592 (2010) [CrossRef] [Google Scholar]
L. G. Cancado, A. Jorio, E. H. M. Ferreira, F. Stavale, C. A. Achete, R. B. Capaz, M. V. O. Moutinho, A. Lombardo, T. S. Kulmala and A. C. Ferrari, Nano Lett., 11, 3190 (2011) [CrossRef] [PubMed] [Google Scholar]
A. J. Pollard, B. Brennan, H. Stec, B. J. Tyler, M. P. Seah, I. S. Gilmore, and D. Roy, App. Phys. Lett., 106, 253107 (2014) [CrossRef] [Google Scholar]
M. Xu, T. Lian, M. Shi and H. Chen, Chem. Rev. 113, 3766 (2013) [CrossRef] [PubMed] [Google Scholar]
S. Mignuzzi, A. J. Pollard, N. Bonini, B. Brennan, I. S. Gilmore, M. A. Pimenta, D. Richards, and D. Roy, Phys. Rev. B, 91, 195411 (2015) [CrossRef] [Google Scholar]
K. S. Novoselov, D. Jiang, F. Schedin, T. J. Booth, V. V. Khotkevich, S. V. Morozov, and A. K. Geim, Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A., 102, 10451 (2015) [Google Scholar]
A. J. Pollard, R. R. Nair, S. N. Sabki, C. R. Staddon, L. M. A. Perdigao, C. H. Hsu, J. M. Garfitt, S. Gangopadhyay, H. F. Gleeson, A. K. Geim and P. H. Beton, J. Phys. Chem. C, 112, 15439 (2009) [Google Scholar]
B. J. Tyler, B. Brennan, H. Stec, T. Patel, L. Hao, I. S Gilmore, and A. J. Pollard, J. Phys. Chem. C, Just Accepted Manuscript, DOI: 10.1021/acs.jpcc.5b03144 (2015) [Google Scholar]
M. P Seah, J. Phys. Chem. C, 117, 12622 (2013) [CrossRef] [Google Scholar]
www.iso.org/iso/home/store/catalogue_tc/catalogue_tc_browse.htm?commid=381983 [Google Scholar]
www.iec.ch/dyn/www/f?p=103:30:0::::FSP_ORG_ID,FSP_LANG_ID:1315,25 [Google Scholar]