International Congress of Metrology

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Influence of low temperature annealing on Nickel RTDs designed for heat flux sensing

Youssef Mokadem, Sylvie Bégot, François Lanzetta, Jean-Yves Rauch, Aymen Zribi, Virginie Moutarlier et Magali Barthès

Publié en ligne : 23 septembre 2019

DOI: 10.1051/metrology/201918007

Youssef Mokadem

Sylvie Bégot

François Lanzetta

Jean-Yves Rauch

Aymen Zribi

Virginie Moutarlier

Magali Barthès

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