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Citations de cet article :

On the performance of the Intel SR300 depth camera: metrological and critical characterization

Monica Carfagni, Rocco Furferi, Lapo Governi, et al.
IEEE Sensors Journal 1 (2017)
DOI: 10.1109/JSEN.2017.2703829
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Novel metrics and methodology for the characterisation of 3D imaging systems

John R. Hodgson, Peter Kinnell, Laura Justham, Niels Lohse and Michael R. Jackson
Optics and Lasers in Engineering 91 169 (2017)
DOI: 10.1016/j.optlaseng.2016.11.007
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Performance verification of a photogrammetric scanning system for micro-parts using a three-dimensional artifact: adjustment and calibration

F. Lavecchia, M. G. Guerra and L. M. Galantucci
The International Journal of Advanced Manufacturing Technology 96 (9-12) 4267 (2018)
DOI: 10.1007/s00170-018-1806-3
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Sajjad Sayyar-Roudsari, Sameer A. Hamoush, Taylor M. V. Szeto and Sun Yi
944 608 (2020)
DOI: 10.1007/978-3-030-17798-0_49
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Optical Characterization of the Beams Generated by 3-D LiDARs: Proposed Procedure and Preliminary Results on MRS1000

Stefano Cattini, Luca Di Cecilia, Luca Ferrari and Luigi Rovati
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 69 (10) 7796 (2020)
DOI: 10.1109/TIM.2020.2984137
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Stefano Cattini, Luigi Rovati, Luca Di Cecilia and Luca Ferrari
1 (2020)
DOI: 10.1109/I2MTC43012.2020.9128651
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Luigi Maria Galantucci, Maria Grazia Guerra and Fulvio Lavecchia
57 (2018)
DOI: 10.1007/978-3-319-89563-5_4
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Marc-Antoine Drouin and Ismail Hamieh
167 (2020)
DOI: 10.1007/978-3-030-44070-1_4
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A new metrological characterization strategy for 3D multi-camera systems

Michaela Servi, Francesco Buonamici, Luca Puggelli and Yary Volpe
International Journal on Interactive Design and Manufacturing (IJIDeM) (2020)
DOI: 10.1007/s12008-020-00721-5
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A Procedure for the Characterization and Comparison of 3-D LiDAR Systems

Stefano Cattini, Davide Cassanelli, Luca Di Cecilia, Luca Ferrari and Luigi Rovati
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement 70 1 (2021)
DOI: 10.1109/TIM.2020.3043114
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Maria Grazia Guerra, Fulvio Lavecchia and Luigi Maria Galantucci
173 (2020)
DOI: 10.1007/978-3-030-46212-3_12
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Marc-Antoine Drouin and Jean-Angelo Beraldin
109 (2020)
DOI: 10.1007/978-3-030-44070-1_3
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TraceableX,Yself-calibration at single nm level of an optical microscope used for coherence scanning interferometry

Peter Ekberg and Lars Mattsson
Measurement Science and Technology 29 (3) 035005 (2018)
DOI: 10.1088/1361-6501/aaa39d
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