Accueil22ème Édition du Congrès International de Métrologie
22ème Édition du Congrès International de Métrologie
22ème Édition du Congrès International de Métrologie
Une nouvelle métrologie pour une industrie et une société durables
11-14 mars 2025, Eurexpo Lyon, France
En partenariat avec GLOBAL INDUSTRIE
Description du congrès
Le premier Congrès international de métrologie (CIM) a été organisé à Bordeaux en 1983 par Pierre Barbier, expert renommé en métrologie et fondateur du Collège français de métrologie (CFM). Cet événement a été créé pour offrir aux experts et aux praticiens du domaine de la métrologie une plate-forme d'échanges sur les défis techniques, les développements en matière de normalisation et les innovations émergentes.
Le Congrès a été créé en réponse à la demande croissante de normalisation et de coopération internationale en matière de systèmes de mesure, en particulier avec l'avènement de technologies qui exigent des mesures plus précises et plus cohérentes à l'échelle mondiale. Au cours de ses éditions successives, le CIM a attiré des participants du monde entier, notamment des représentants de l'industrie, du monde universitaire et des organismes de réglementation, afin de partager les meilleures pratiques et de relever les défis mondiaux dans le domaine de la métrologie.
Aujourd'hui, le CIM est un événement biennal de premier plan qui attire des centaines de professionnels qui profitent de l'occasion pour interagir avec les principaux experts en métrologie.
Cette 22e édition propose un nouveau programme dynamique de quatre jours, avec des sessions en parallèle abordant les défis mondiaux actuels. Entièrement en anglais, avec plus de 200 présentations orales et posters, des tables rondes, des ateliers, un cours magistral et une variété d'événements sociaux, la CIM continue d'être un centre de discussions de pointe et d'opportunités de réseautage.
Oriano BOTTAUSCIO - INRIM / Italie
Maguelonne CHAMBON - LNE / France
Cosimi CORLETO - STIL Marposs / France
Jean-Pascal DE CASANOVE - SAFRAN / France
Dolores DEL CAMPO - CEM / Espagne
Miruna DOBRÉ - SPF ECONOMIE / Belgique
Anthony DONNELLAN - OIML / International
Christina DRAGHICI - ISO / Suisse
Sascha EICHSTAEDT - PTB / Allemagne
Mustapha EL BOUCHOUAFI - ZEISS / France
Nicolas FISCHER - LNE / France
Eric GEORGIN - CETIAT / France
Barbara GOLDSTEIN - NIST / USA
Stéphane GUEU - ESSILOR LUXOTTICA / France
JT JANSSEN - NPL / Grande-Bretagne
Sami KOSKINEN - BEAMEX / Finlande
Sebastien LABORDE - COFRAC / France
Hugo LEHMANN - METAS / Suisse
Pete LOFTUS - EVALU8TION / Grande-Bretagne
Maureen LOGGHE - EA / Belgique
Laura MARTIN - EUROLAB / Belgique
Temmu NAYKKI - FINNISH ENV. INSTITUTE / Finlande
Jessica QUERON - INERIS / France
Anne TRUMPFHELLER - EURAMET / Allemagne
Valentijn VAN MISPELAAR - SHELL / Pays-Bas
David VASTY - TRESCAL / France
Alexandra ALLARD - IFREMER / France
Fredrik ARRHEN - RISE / Suède
Annarita BALDAN - VSL / Pays-Bas
Elsa BATISTA - IPQ / Portugal
David BENHAMOU - CT2M / France
Harald BOSSE - PTB / Allemagne
Oriano BOTTAUSCIO - INRIM / Italie
Oliver BÜKER - RISE / Suède
Isabelle CARE - CETIAT / France
Thierry COOREVITS - ENSAM / France
Ivo DEGIOVANNI - INRIM / Italie
Dolores DEL CAMPO - CEM / Espagne
Alex DEXTER - NPL / Grande-Bretagne
Florbela DIAS - IPQ / Portugal
Miruna DOBRÉ - SPF ECONOMIE / Belgique
Jean-Remy FILTZ - LNE / France
Nicolas FISCHER - LNE / France
Pierre GOURNAY - BIPM / International
Alain GUERDAT - ROLEX / Suisse
François HENNEBELLE - UNIV. DE BOURGOGNE / France
JT JANSSEN - NPL / Grande-Bretagne
Stephan KUECK - PTB / Allemagne
Mark KUSTER - NCSLI / USA
Bernard LARQUIER - BEA METROLOGIE / France
Richard LUXTON - IBST / Grande-Bretagne
Marco Carlo MASOERO - POLITECNICO DI TORINO / Italie
Kruno MILICEVIC - RANDOM RED / Croatie
Jasmine PETRY - NESTLE / Suisse
Gert RIETVELD - VSL / Pays-Bas
Andrea Mario ROSSI - INRIM / Italie
Max RYADNOV - NPL / Grande-Bretagne
Michela SEGA - INRIM / Italie
David VASTY - TRESCAL / France
