17ième Congrès International de Métrologie

17ième Congrès International de Métrologie
21 au 24 Septembre 2015 - Paris, France

Comité d’édition scientifique

Président

Mme Filipe - IPQ (Portugal) / M. Filtz - LNE (France)

Membres comité scientifique

M. Allard, Mme Chambon, M. Erard, M. Piquemal - LNE (France)
Mme Baldan- VSL (Pays-Bas)
Mme Batista, Mme Godinho - IPQ (Portugal)
M. Benhamou - CT2M (France)
M. Brandi- INMETRO (Brésil)
Mme Care- CETIAT (France)
M. Chavaudra- ip (France)
M. Coorevits- Arts & Métiers Paris Tech (France)
Mme Courage- IFTH (France)
Mme Del Campo, Mme MeDina- CEM (Espagne)
Mme Dobre- SP ECONOMIE (Belgique)
M. Ferdinand - CEA (France)
M. Fernicola -INRIM (Italie)
M. Gournay - BIPM
M. Guerdat - Montres Rolex (Suisse)
M. Guettler, M. Koch - PTB (Allemagne)
M. Hennebelle- Université de Bourgogne (France)
M. Himbert - LCM LNE-CNAM (France)
Mme Hockert - NIST (USA)
M. Brown, Mme Hully, M. Machin - NPL ( Royaume Uni)
Mme Langlois-Bertrand - AFNOR (France)
M. Larquier - BEA Métrologie (France)
M. Masoero - Université de Turin (Italie)
M. Matamoros- CENAM (Mexique)
M. Milosevic- VINCA (Serbie)
M. Penin- Norma System (France)
M. Petersen - DFM (Danemark)
M. Priel - ip (France)
M. Rietveld - VSL (Pays-Bas)
Mme Salvetat - Ifremer (France)
M. Twerenbold - METAS (Suisse)
M. Vanderham - NMI (Australie)
M. Villamanan - Université de Valladolid (Espagne)

Comité d’organisation

Président

Pierre Claudel - CETIAT (France) et Jenny Hully - NPL (Royaume-Uni)

Membres comité d’organisation

Martine Blum - EA (France)
Maguelonne Chambon- LNE (France)
François Daubenfeld - PSA Peugeot Citröen (France)
Jean-Marc D’Hulst - Trescal (France)
Jean-rémy Filtz - LNE (France)
Pierre Gournay - BIPM
p> Carol Hockert -NIST (USA)
François HennebeLLe- Université de Bourgogne (France)
Daniel Jullien - Hexagon Metrology (France)
Émilie Langlois-Bertrand - AFNOR (France)
Bernard Larquier - BEA Métrologie (France)
Claunel Massies - Wika (France)
Antonio Mazzei – ip (France)
Jan Petersen - DFM (Danemark)
Patrick reposeur - ACAC (France)
Rudolf Thalmann - METAS (Suisse)
Martine Van Nuffelen - IMPLEX (France)
David Vasty - A+ Métrologie (France)

Présentation du congrès

Mesurer, analyser et innover : le défi permanent !

Le Congrès International de Métrologie du 21 au 24 septembre 2015 (CIM 2015) à Paris-Porte de Versailles avec le Salon ENOVA

Le CIM est le lieu d’échanges techniques entre tous les acteurs du monde de la mesure : utilisateurs industriels de moyens de mesure, experts techniques, laboratoires publics et privés, fabricants et prestataires.

Ce Congrès est unique en Europe.

Il présente les évolutions des techniques de mesure, les avancées R&D et leurs implications pour l’industrie.

Il montre également comment la mesure améliore, au quotidien, les processus industriels et la maîtrise des risques.

Les thématiques fortes du CIM sont présentes dans les 6 tables rondes industrielles de l’événement :

  • Les bonnes pratiques en santé
  • Transition énergétique : la métrologie relève le défi
  • L’analyse sensorielle au service de la métrologie
  • Externaliser la fonction métrologie : rêve ou réalité ?
  • Agro-alimentaire : le plus métrologique
  • Mesure et maîtrise des risques : nouvelle approche ISO 9001

Près de 200 conférences sont présentées sur des sujets très variés et vous pouvez retrouver la publication de ces actes sur ce site.

Les grands domaines techniques sont abordés : mécanique, température, dimensionnel et 3D, débit, électricité, optique …

Les rappels plus généraux comme les incertitudes de mesure, l’apport des statistiques, le SI … ne sont pas oubliés.

Les nouvelles préoccupations sont également présentes : la sécurité dans le secteur médical et l’agro-alimentaire, les défis liés à la transition énergétique, les nanotechnologies …

Pour compléter ce panel des visites techniques à l’Observatoire de Paris, chez SOPEMEA et au LNE sont organisées.

Le Congrès est organisé par le Collège Français de Métrologie en partenariat avec Euramet, European co-operation for Accreditation, le BIPM, l’OIML, le NCSLi, le NPL, le DFM et le METAS pour la participation internationale. Des utilisateurs, des professionnels et des universitaires complètent l’organisation : A+Métrologie, Acac, Afnor Normalisation, BEA Métrologie, CETIAT, Hexagon Metrology, Implex, LNE, PSA Peugeot Citröen, Trescal, l’Université de Bourgogne et Wika.

Le partenaire Principal du CIM 2015 est A+ Métrologie.

Les autres sponsors du congrès sont : le CETIAT, Hexagon Metrology, Implex, Metrologic Group et Wika.

La DGE, direction du Ministère de l’Economie, de l’Industrie et du Numérique, et le Ministère de la Culture accompagnent également l’organisation.

Le CIM 2015 est organisé conjointement avec ENOVA, le salon des technologies Electronique, Mesure, Vision et Optique. Les 2 organisateurs ont créé le point de rencontre entre le congrès et le Salon au coeur de l’exposition : le Village Métrologie.

Partenaires

Organisateurs