16ième Congrès International de Métrologie
16ième Congrès International de Métrologie
7 au 10 Octobre 2013, Paris, France
Programme complet (PDF)
Congrès de Métrologie 2013 : mesure et production,
même combat ! (PDF)
Les tables rondes (PDF)
Comité d’édition scientifique
Jean-Rémy FILTZ – LNE, Président du Comité Scientifique et Technique du Congrès 2013
Bernard LARQUIER – BEA Métrologie ; Président du Congrès International de métrologie 2013
Pierre CLAUDEL – CETIAT ; Président du Collège Français de Métrologie
Jacques-Olivier FAVREAU – CFM ; Secrétaire Technique du Collège Français de Métrologie
Présentation du congrès
Congrès International de Métrologie 2013 : mesure et production, même combat !
Etape essentielle de toute démarche qualité, la mesure est un élément de prise de décision essentiel, vecteur de performance, de maîtrise du risque industriel, et de crédibilité…
Et c’est bien de tout cela dont il est question au cours de cet événement !
Ce Congrès est le lieu d’échanges techniques – unique en Europe - entre tous les acteurs du monde de la mesure : utilisateurs industriels de moyens de mesure, experts techniques, organismes, fabricants et prestataires.
Il présente de manière concrète comment la mesure est un outil d’amélioration des processus et de maîtrise des risques de l’entreprise.
Les actes du Congrès de ce seizième congrès de métrologie sont présentés ci-après. En complément, une trentaine d’articles, sélectionnés par le comité d’organisation, et analysés par un comité de lecture constitués des membres du comité scientifique et technique sont publiés sur le site d’EPJ Web of Conferences. Tous ces articles sont présentés par leurs auteurs lors des six tables rondes industrielles et des 180 conférences, permettant un échange avec les participants au congrès.
Le point commun de ces publications est la mesure sous toutes ses formes ; industrielle, de laboratoire et concernant un grand nombre de domaines : physique (mécanique, thermique, électrique, forme et état de surface, débitmétrique, …), et aussi chimique, biologique et médical, environnement et défis liés à l’énergie, agro-alimentaire, , exigences métrologiques, défis des nanotechnologies, management du risque et conformité du produit…
Ces articles présentent aussi un état d’avancement sur de nombreux programmes européens de recherche et leurs applications industrielles.
Le Congrès est organisé par le Collège Français de Métrologie en partenariat avec Euramet, le BIPM, l’OIML, le NCSLi, le NPL et le METAS pour l’ouverture internationale. Des utilisateurs, des professionnels et des universitaires complètent le groupe d’organisation : EDF, Novartis, PSA Peugeot Citröen, Stork Intermes, Acac, BEA Métrologie, Cetiat, IMQ, LNE et INSA participe au comité d’organisation.
Partenaires du Congrès 2013 : Apave – A+ Métrologie et Carl Zeiss.
Hexagon Metrology et Implex sont associés à la préparation de la manifestation.
Comme pour l’édition précédente, le Congrès est organisé conjointement avec Mesurexpovision.
Partenaires
Organisateurs
