Open Access
Issue
2013
16th International Congress of Metrology
Article Number 11002
Number of page(s) 6
Section Métrologie électrique / Electrical metrology
DOI https://doi.org/10.1051/metrology/201311002
Published online 07 October 2013
  • W. Poirier, F. Schopfer, Eur. Phys. J. – Special Topics, vol. 172, 207, 2009 [CrossRef] [EDP Sciences]
  • B. Jeanneret, S. Benz, Eur. Phys. J. – Special Topics, vol. 172, 181, 2009 [CrossRef] [EDP Sciences]
  • F. Piquemal, « Quantum Electrical Standards » Handbook of Metrology, édité par Michael Gläser et Manfred Kochsiekx, vol. 1 et 2, Wiley-VCH, avril 2010
  • CMC : Calibration and Measurement Capabilities : aptitudes d’un laboratoire national de métrologie en matière de mesures et d’étalonnages
  • http://kcdb.bipm.org/
  • G-D Willenberg, EURAMET.EM-S24 report, Metrologia, vol. 50, 2013
  • J. Pekola et al., arXiv:1208.4030, 2013
  • X. Jehl et al., ce recueil
  • H. Scherer, ce recueil
  • R. K. Leach et al., Nanotechnology, vol. 22, 2011 [CrossRef] [PubMed]
  • Rapport de la 20ème réunion Comité Consultatif pour les Unités. 14–16 septembre 2010
  • P. J. Mohr, et al., CODATA Recommended Values of the Fundamental Physical Constants, 2012
  • I. K. Harvey, Rev. Sci. Instrum., vol. 43, 1972. [CrossRef]
  • J. Gallop and F. Piquemal, SQUIDs Handbook, vol.II,, édité par Alex Braginski et John Clark, Wiley, Berlin, 2006.