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2013
16th International Congress of Metrology
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Article Number | 04005 | |
Number of page(s) | 6 | |
Section | Outils mathématiques / Mathematical tools | |
DOI | https://doi.org/10.1051/metrology/201304005 | |
Published online | 07 October 2013 |
Covariance dans le processus d’étalonnage
Delta Mu, Centre d’affaires du Zénith, Le trident E – 48 rue Sarliève, 63800, Cournon d’Auvergne, France
a Christophe Dubois: cdubois@deltamu.fr
Il est d’usage d’analyser un processus d’étalonnage en établissant un bilan d’incertitude, c’est à dire en listant toutes, ou du moins le plus grand nombre, de causes d’incertitude. Les différentes composantes d’incertitudes sont quantifiées à l’aide d’une méthode de type A ou de type B (cf. GUM [1]). L’incertitude d’étalonnage est alors déduite en sommant en variance ces incertitudes type. Dans cette étape on oublie souvent de tenir compte de la covariance entre les causes d’incertitude, c’est à dire de leur indépendance. En effet,certaines incertitudes n’ont pas nécessairement eu le temps de s’exprimer totalement c’est-à-dire de varier sur toute leur plage de variation possible pendant la durée de l’étalonnage (par exemple l’effet inter-opérateur lorsque le même opérateur effectue l’étalonnage d’un instrument) et d’autres sont intimement liées entre elles et varient de concert pendant la mesure (par exemple la température de l’étalon et du moyen). En s’appuyant sur le concept de « variance forte opportunité » et de « variance faible opportunité », cet article présente une méthode pour calculer ces covariances.
© Owned by the authors, published by EDP Sciences, 2013
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