International Congress of Metrology

Recherche

Capacitance metrology at the BIPM to support National Metrology Institutes

J. Angel Moreno et Pierre Gournay

Publié en ligne : 23 septembre 2019

DOI: 10.1051/metrology/201914001

J. Angel Moreno

Pierre Gournay

articles ayant parmi leurs auteurs TOUS les auteurs sélectionnés (ET)

articles ayant parmi leurs auteurs AU MOINS un auteur identique à ceux sélectionnés (OU)