International Congress of Metrology

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IT Security Standards and Legal Metrology – Transfer and Validation

F. Thiel, V. Hartmann, U. Grottker et D. Richter

EPJ Web of Conferences, 77 (2014) 00001

Publié en ligne : 19 août 2014

DOI: 10.1051/epjconf/20147700001

F. Thiel

V. Hartmann

U. Grottker

D. Richter

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