Deux ans d’expérience du club nanoMétrologieF. Piquemal, K. Aguir, D. Bernard, V. Cappronnier, J. Carimalo, D. Chambonnet, Y. De Wilde, S. Ducourtieux, G. Favre, N. Feltin, B. Gautier, P. Gournay, P. Lambert, A. Levenson, G. Louarn, T. Macé, J.M. Moschetta et B. PoyetInternational Congress of Metrology, (2013) 13002DOI: https://doi.org/10.1051/metrology/201313002
