Deux ans d’expérience du club nanoMétrologieF. Piquemal, K. Aguir, D. Bernard, V. Cappronnier, J. Carimalo, D. Chambonnet, Y. De Wilde, S. Ducourtieux, G. Favre, N. Feltin, B. Gautier, P. Gournay, P. Lambert, A. Levenson, G. Louarn, T. Macé, J.M. Moschetta and B. PoyetInternational Congress of Metrology, (2013) 13002DOI: https://doi.org/10.1051/metrology/201313002
